Bienvenue sur JEOL (EUROPE) SAS
JEOL est le leader mondial dans les domaines de la microscopie électronique à balayage (MEB), la microscopie électronique en transmission (MET), la préparation d’échantillons, la spectrométrie de masse, la spectrométrie RMN…
Nous fournissons des solutions spécifiques et adaptées aux attentes de nos clients, depuis les analyses de routine jusqu’aux appareils de pointe dans tous les domaines scientifiques, des nanotechnologies à la biologie.
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ACTUALITÉS
Inauguration du NEOARM à l’ONERA
L’équipe JEOL a été ravie d’assister à l’inauguration de la plateforme MOSTRA.
JEOL renforce sa présence en RMN avec l’acquisition d’une console et d’une sonde JEOL sur un aimant existant de la plateforme RMN de Sorbonne Université
L'acquisition d'une console RMN et de la sonde ROYALPROBE HFX™ par Sorbonne Université illustre la compatibilité des solutions JEOL avec des aimants d'autres fabricants, offrant ainsi une continuité et une optimisation des capacités analytiques des laboratoires de recherche.
JEM-120i au centre de démonstration de Croissy
Venez essayer le nouveau TEM JEM-120i au centre de démonstration de Croissy.
POSTER
In-situ SEM-SXES analysis of Si anode chemical state change during charge-discharge cycling
Nous avons installé un système d’observation et d’analyse in situ pour les SSB sur un microscope électronique à balayage (MEB) équipé d’un spectrometre SXES. Les multiples cycles de charge-décharge in situ ont permis de saisir les changements morphologiques de l’anode (Silicium) et l’état de lithiation et de délithiation pendant les cycles.
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APPLICATION
Application de True Area Scan (TAS) à l’acquisition EDS
TAS uses a fast beam blanker to shut off the electron beam during scan flyback, during which no data are collected. As a result, it becomes possible to acquire stable data while minimizing the risk of specimen damage during analysis….
> Télécharger la note d’application
Film d’élastomère
Le mince film de PDMS est utilisé en microfluidique pour le développement de puces organiques.
Free article published in ECS - The Electrochemical Society - "In-Situ Charging-Discharging #SEM Observation and Li Analysis for Si Anode in All Solid-State #Battery By Using SEM-EDS-SXES Method" 🔋 Read the full article here! 👉 lnkd.in/eHQnfNZB #JEOL #solidstatebattery #EDS #SXES
— JEOL EUROPE (@jeoleurope.bsky.social) 27 février 2025 à 13:10
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| L’association Cercle des microscopistes JEOL promeut les échanges techniques et scientifiques entre les utilisateurs de microscopes électroniques JEOL. Elle organise les journées CMJ pendant lesquelles sont exposées les dernières avancées techniques et de multiples applications en matière de microscopie électronique. > voir les événements CMJ  |
