Bienvenue sur JEOL (EUROPE) SAS
JEOL est le leader mondial dans les domaines de la microscopie électronique à balayage (MEB), la microscopie électronique en transmission (MET), la préparation d’échantillons, la spectrométrie de masse, la spectrométrie RMN…
Nous fournissons des solutions spécifiques et adaptées aux attentes de nos clients, depuis les analyses de routine jusqu’aux appareils de pointe dans tous les domaines scientifiques, des nanotechnologies à la biologie.
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ACTUALITÉS
Nouvelle version JASON
La version 5.3 du logiciel d’analyse de données RMN JASON est disponible.
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Les 20 ans des CMJ
La dernière édition des CMJ s’est tenue à Catane en Sicile. Cette édition est très particulière car elle marque les 20 ans de l’association CMJ.
Journée JEM 120i
Venez découvrir le dernier MET 120kV JEOL et les nouveaux développements en imagerie et analyse au centre de démonstration de JEOL à Croissy-sur-Seine, le 6 novembre 2025.
POSTER
In-situ SEM-SXES analysis of Si anode chemical state change during charge-discharge cycling
Nous avons installé un système d’observation et d’analyse in situ pour les SSB sur un microscope électronique à balayage (MEB) équipé d’un spectrometre SXES. Les multiples cycles de charge-décharge in situ ont permis de saisir les changements morphologiques de l’anode (Silicium) et l’état de lithiation et de délithiation pendant les cycles.
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APPLICATION
Sections sériées pour la MET : Utilisation de lames de SiN pour la reconstruction 3D d’échantillons biologiques – 3D Observation of Biological Specimen using a SiN Window Chip: Serial Section TEM
JEOL has developed and marketed a SiN Window Chip using a high-strength silicon nitride film as a support, which enables observation without obscuring the field-of-view. In this application, we performed Serial Section TEM unsing a SiN Window Chip.
> Télécharger la note d’application
Film d’élastomère
Le mince film de PDMS est utilisé en microfluidique pour le développement de puces organiques.
Free article published in ECS - The Electrochemical Society - "In-Situ Charging-Discharging #SEM Observation and Li Analysis for Si Anode in All Solid-State #Battery By Using SEM-EDS-SXES Method" 🔋 Read the full article here! 👉 lnkd.in/eHQnfNZB #JEOL #solidstatebattery #EDS #SXES
— JEOL EUROPE (@jeoleurope.bsky.social) 27 février 2025 à 13:10
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| L’association Cercle des microscopistes JEOL promeut les échanges techniques et scientifiques entre les utilisateurs de microscopes électroniques JEOL. Elle organise les journées CMJ pendant lesquelles sont exposées les dernières avancées techniques et de multiples applications en matière de microscopie électronique. > voir les événements CMJ  |
