Produits »
Equipements d’Optique Électronique
»
Microscopes Electroniques à Balayage
»
Microscopes Electroniques en Transmission
»
FIB et MEB-FIB à double colonne
»
Analyse de Surface (Auger, microsondes EPMA)
»
EDS Intégrée pour MEB et MET Jeol
Préparation d’échantillons
»
Plasma Cleaner
»
Ion Slicer
»
Polisseur ionique - CP
»
Métalliseur évaporateur carbone
Equipement Semi-conducteur
»
Lithographie par faisceau d’électrons
»
Inspection de Wafer par MEB
»
Inspection de procédés de précision
Spectroscopie analytique
»
Spectromètres de masse
»
Résonance Magnétique Nucléaire
»
Résonance Paramagnétique Electronique
Contrôle de l’environnement des salles
»
Contrôle en température de salle
»
Compensateur de champs magnétiques
»
Dispositifs anti-vibratoires
Spectrométrie X
»
SXES
»
X ray Fluorescence (JSX 1000S)
Actualités
SAV / Support
Contact
Applications
Connexion
Connexion
Actualités
INFOS
ÉVÉNEMENTS
PUBLICATIONS
Derniers articles
|
Archives
|
Rechercher
19
A New Communication Channel for NMR Division
05
Mise en service d'un nouveau microscope électronique en transmission à l'Institut Jean Lamour
06
Observer des protéines congelées dans leur état naturel
06
La cryo-microscopie à l'honneur par le Prix Nobel de chimie
22
La directive 2011/65/UE, petit rappel
19
Repousser les limites de résolution
15
Pour les abeilles et pour l'environnement
18
Le CEA passe à la microsonde FEG ultra haute résolution
15
Arcelormittal investit dans une nouvelle microsonde FEG JEOL
03
JXA-8530F Plus : la 3ème génération de microsonde de Castaing FEG
Page 1 sur 6
Première
Précédente
[1]
2
3
4
5
6
Suivante
Dernière