Produits »
Equipements d’Optique Électronique
»
Microscopes Electroniques à Balayage
»
Microscopes Electroniques en Transmission
»
FIB et MEB-FIB à double colonne
»
Analyse de Surface (Auger, microsondes EPMA)
»
EDS Intégrée pour MEB et MET Jeol
Préparation d’échantillons
»
Plasma Cleaner
»
Ion Slicer
»
Polisseur ionique - CP
»
Métalliseur évaporateur carbone
Equipement Semi-conducteur
»
Lithographie par faisceau d’électrons
»
Inspection de Wafer par MEB
»
Inspection de procédés de précision
Spectroscopie analytique
»
Spectromètres de masse
»
Résonance Magnétique Nucléaire
»
Sondes solides
»
Résonance Paramagnétique Electronique
Contrôle de l’environnement des salles
»
Contrôle en température de salle
»
Compensateur de champs magnétiques
»
Dispositifs anti-vibratoires
Spectrométrie X
»
SXES
»
X ray Fluorescence (JSX 1000S)
Actualités
SAV / Support
Contact
Applications
Connexion
Actualités
INFOS
ÉVÉNEMENTS
PUBLICATIONS
Derniers articles
|
Archives
|
Rechercher
12
1,55Å de résolution sur le CRYOARM !
29
Un nouveau MET 200kV FEG automatisé : le JEM-ACE200F
21
Inauguration d'un centre d'excellence de microscopie électronique à Prague
17
Job opportunity
04
Installation de deux spectromètres RMN à Prague
28
Nouveau logiciel pour microscope électronique à balayage (MEB)
05
Se former sur la préparation d'échantillons et développer ses connaissances sur la microscopie électronique
16
5. Visite des ruches n°1 et 2. Juillet 2018 : le miel est prêt à être récolté
13
4. Visite de la ruche n°1. Premières gouttes de miel
02
3. Visite de la ruche n°2. Préparer l’arrivée d’une nouvelle reine
Page 1 sur 8
Première
Précédente
[1]
2
3
4
5
6
7
8
Suivante
Dernière