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Après un premier ARM Cold Feg en 2011, L’institut Jean Lamour (IJL) s'est récemment doté de la nouvelle génération d’ARM : le JEM-ARM200F ACCELARM.

Colloque annuel de l'Institut Jean Lamour Matériaux et microscopie électronique en transmission Présentation du microscope électronique en transmission JEM-ARM200F ACCELARM à l’Institut Jean Lamour

L’inauguration s’est tenue dans les nouveaux locaux de l’IJL, sur le campus ARTEM de Nancy, le 16 novembre dernier lors du colloque annuel de l’Institut Jean Lamour.
 
L’ACCELARM est un microscope ultra performant qui permet de caractériser les matériaux à l'échelle atomique en imagerie TEM et STEM à l’aide des dernières technologies développées par JEOL. Il est équipé d’un canon froid de deux correcteurs de Cs, dont le tout dernier correcteur d’aberration STEM ASCOR, d’un EDS centurio, du perfect sight et de nombreuses autres techniques analytiques.
 
Toute l’équipe JEOL souhaite remercier l’équipe de l’IJL pour l’organisation et le parfait déroulement de ce colloque. La qualité des exposés fut exemplaire avec des intervenants de premier plan.

Microscope électronique en transmission JEM-ARM200F JEOL > programme du colloque
> résumés des intervenants
 
Nous souhaitons également remercier les trois porteurs de projets : Dr Stéphanie Bruyère, Dr Jaafar Ghanbaja, Dr Xavier Devaux pour nous avoir renouvelé leur confiance.

> A propos du JEM-ARM200F