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En décembre 2018, JEOL a lancé un nouveau microscope électronique en transmission à haute tension, le JEM-ACE200F. Avec son chargeur automatique d’échantillons, son analyse chimique (EDS) à ultra large angle solide, sa lentille dédiée Haute Résolution, il offre un formidable  outil d’analyse de défaillance pour les semi-conducteurs, extraordinairement rapide.