EDS Intégrée MEB / MET

Equipements d’Optique Électronique

Des solutions innovantes et performantes parfaitement adaptées à nos équipements.

Centurio EDS 1sr pour cartographies élémentaires atomique ultrarapide
Centurio EDS 1sr pour cartographies élémentaires atomique ultrarapideCenturio EDS 1sr pour cartographies élémentaires atomique ultrarapide

Le Centurio est la dernière génération de détecteur SDD (Silicon Drift Detector) développé par JEOL. Il collecte les photons X de l’échantillon avec le plus important angle solide du marché jusqu’à 1 steradian.

Grace à une collection très efficace des rayons X, le Centurio est capable de traiter de très fort taux de comptage. Ainsi il accélère l’acquisition des cartographies et améliore la sensibilité de détection sans perte de résolution en énergie. Une cartographie avec un très grand nombre de pixels peut être acquise à des taux dix fois supérieurs aux précédents systèmes EDS, avec un excellent rapport signal/bruit.

Avec un très fort courant et un très petit diamètre de sonde grâce à un système de correction d’aberration sphérique (STEM CS correcteur), il devient maintenant possible grâce au Centurio de réaliser des cartographies X rapides de résolution atomique.
  • Analyses EDS à fort rendement et à haute sensibilité.
  • Les possibilités de cartographies X élémentaires augmentent de manière exponentielle pour un MET JEOL 200kV et plus.
  • Le design du Centurio permet de rétracter et repositionner le détecteur automatiquement et rapidement pour éviter les irradiations dues aux électrons rétrodiffusés. Le détecteur est protégé.
  • Angle solide 1sr.