EDS Intégrée MEB / MET

Equipements d’Optique Électronique

Des solutions innovantes et performantes parfaitement adaptées à nos équipements.

EDS SDD pour MET
JED-2300T - Energy dispersive X-ray analyzer

Solution analytique intégrée avec :

- Détecteur SDD pour éléments légers
- Fort taux de comptage
- Résolution 129 eV
- Eléments détectables Be à U
- Cartographie élémentaire
- Simulation spectrale
- Correction de dérive interactive

Au Catalyst Particle supported on Ti Oxide
Specimen : Au Catalyst Particle supported on Ti Oxide
Instrument :  JEM-ARM200F + Dry SD100GV Detector
Measurement Time Approx : 1 minute
Probe Current :  1nA
Pixel Number :  256 x 256 pixels
Atomic Resolution Mapping
Atomic columns of Sr and Ti are clearly segregated.
 
 SrTiO3<100> Specimen :  SrTiO3<100>
Instrument :  JEM-ARM200F + Dry SD100GV Detector
Measurement Time Approx. : 10 minutes
Probe Current :  1nA
Pixel Number :  128 x 128 pixels
 
Rock Salt Specimen :  Rock Salt
Pixel Number :  128 x 128 pixels
Sample Frame Number : 398 frames