FIB et MEB-FIB à double colonne

JEOL utilise la technologie FIB  aussi bien sous une forme d'un simple faisceau d'ions focalisés, que sous la forme d'un double faisceau qui associe une colonne MEB (LaB6 ou FEG) avec une colonne ionique.

GAMME D’ÉQUIPEMENTS JEOL

Focused Ion Beam System
Sonde

La sonde JIB-4000 est un système de préparation d'échantillons et d'observation par faisceau d'ions focalisé.

MEB-FIB à double colonne
JIB-4700F - MEF FIB

La source ionique est combinée avec un canon à émission de champ.