Microscopes Électroniques à Balayage (MEB)

JEOL joue un rôle majeur dans l'évolution de la microscopie électronique à balayage depuis le début des années 60.
JEOL propose un support applicatif, des formations adaptées et un service récompensé par des prix internationaux.

GAMME D’ÉQUIPEMENTS JEOL

MEB de table avec EDS
MEB de table avec EDS

MEB ultra simplifié, grande profondeur de champ,
grandissement jusqu’à x60 000,
mode Low-Vacuum,
analyse chimique EDX intégrée.

MEB Tungstène ou LaB6 Low Vacuum

Idéal pour: l’analyse de défauts, l’inspection,
la caractérisation, pour l’imagerie,
l’analyse X,  les échantillons humides,
non conducteurs, non préparés.

MEB FEG
MEB FEG

Ultra haute résolution en imagerie et
en analyse chimique
sur tous les types d’échantillons,
version Low Vacuum disponible.

MEB Atmosphérique
MEB Atmosphérique

Le Clairscope, seul MEB au monde
à pression atmosphérique,
corrélé à un microscope optique interne.

SOLUTIONS COMPLÉMENTAIRES JEOL ET PARTENAIRES

Développement de nombreuses réalisations uniques
  • Porte-Objets pour une large variété d’applications
  • Microscopie corrélative
  • Cellule blindée, protection biologique
  • Chambre environnementale, etc...
Solutions proposées en collaboration avec nos partenaires
  • Omniprobe - Lithographie assistée par gaz
  • Protochips - Porte-objet chauffant pour expériences en dynamique en température
  • Gatan - cryo transfer systems, cathodoluminescence (CL)
  • Kleindiek - nanomanipulation