MEB Ultra haute résolution

Microscopes Électroniques à Balayage (MEB)

JEOL propose une large gamme de MEB
avec un canon à émission de champ (FEG),
afin de toujours répondre au mieux à vos besoins.

JSM-7900F/LV Microscope Electronique à Balayage FEG UHR Analytique
JSM-7900F/LV - JEOL

Le JSM-7900F est le 1er microscope électronique à balayage (MEB) haute résolution pouvant être utilisé par un scientifique qui n’a pas le temps d’apprendre la microscopie.

Il permet à la fois la haute résolution :  en imagerie, en analyse structurale et en analyse chimique. Le Neo Engine fruit de 5 ans de recherche pilote plus de 20 fois plus de paramètres que les fonctions automatiques des MEB  actuelles. Cette mini ‘IA’ rend l’ajustement du MEB transparent pour l’opérateur.


Image à haute résolution


Le JSM-7900F est également équipé d’un système de lentille pouvant entre autres : analyser des échantillons magnétiques en haute résolution, avoir une très grande profondeur de champ, produire des analyses chimiques proches du nanomètre.


Le JSM-7900F est également équipé de la lentille ACL (breveté) et d’un nouveau détecteur d’électrons rétrodiffusés.
Ne vous contentez pas de la brochure venez le tester. En une journée vous pourrez tester la flexibilité du microscope dans tous les modes : Haute Résolution à basse et haute tension, analyse chimique rapide à basse tension etc.
Grâce à la basse tension et à son mode low vacuum tous les types d’échantillons peuvent être analysés : de la biologie aux nanomatériaux.

Détecteur d'électrons rétrodiffusés

Détecteur d'électrons rétrodiffusés




Nano-matériaux d'oxyde

Nano-matériaux d'oxyde



Nano-particules de métal

Nano-particules de métal



Verre

Verre



Grain de café

Grain de café


Technologie d'émission
Schottky à immersion (Brevet JEOL)
Résolution
0,7 nm (15 kV)
0,7 nm (1 kV) 

Résolution possible de 0,6 nm (30 kV) en mode STEM

les résolutions sont calculées par séparation de deux particules d'or sur l'image et non par un logiciel automatique ou par 'edge criteria'.


Grandissements de x25 à x1.000.000
(format 120mm x 90mm)
Tension d’accélération de 10 volts à 30 kV
Courant de faisceau
de 1 pA à >400 nA
Détecteurs BEI, SEI IN LENS dans la lentille et
BEI, SEI dans la chambre
Détecteur SRBEI rétractable
Filtre en Energie permettant de sélectionner le signal SE ou BSE
Gentle beam Décélération intégrée de faisceau
Sas d’introduction d’échantillons Standard semi automatique
Platine Eucentrique, Platine motorisée 5 axes
Design économie d’énergie
Consommation en utilisation standard: 1,2 kVA
Mode veille: 1 kVA
Console opératoire à l’arrêt: 0,76 kVA
SnAlO 7900F
Composite 7900F
7900F
Mesoporous silica 7900F
Nanoporeous 7900F
Pollen 7900F
Ceramique 7900F
Graphene 80V 7900F