MET 300kV

Microscopes Électroniques en Transmission (MET)

Une gamme de MET 300 kV FEG, avec ou sans filtre Oméga intégré et en version cryo pour la biologie avec le JEM-3200FSC à hélium.

JEM-ARM300F : le MET 300kV à correcteur d'aberrations
JEM-ARM300FJEM-ARM300F

Le grand ARM  est la synthèse harmonieuse des innovations développées pour le Projet National Japonais R005, dont le but était de franchir la barre des 50pm, (47pm en 2007 sur Ge-Ge) et des avancées technologiques d’intégration des correcteurs de l’ARM-200F.


Cet appareil bénéficie de nombreuses innovations :

- L’ hyper Cold FEG : source à faible dispersion énergétique permettant de combiner une faible taille de sonde à une brillance très importante. Cette triple capacité est l’unique moyen de pouvoir acquérir simultanément une analyse élémentaire X, EELS associés à une échelle atomique en un temps record sur quatre types de détecteurs (EDS, EELS, HAADF, BEI).

- Le Centurio : système d’analyse X avec un angle solide inégalé de 1,6srd, développé pour les analyses en tomographie X et les acquisitions atomiques rapides.

- Correcteurs d’aberration ETA développés par JEOL. Ces correcteurs, d’un nouveau type, ont été développés autour de dodécapoles et sont  gérés par le nouveau système COSMO.  

- Perfect Sight : nouveau détecteur DF de technologie hybride qui permet de traiter quantitativement le signal HAADF, grâce à sa réponse homogène sur l’ensemble du détecteur (unique).

L’ensemble des innovations est géré par un logiciel robuste intégrant les correcteurs et périphériques dans une interface d’une redoutable facilité.

Cet appareil est l’état de l’art de l’Ultra Haute Résolution analytique et spectroscopique, idéal pour les expériences in-situ. Cet appareil bénéficie d’une résolution inégalé de 45pm.

Une version CRYO est également disponible.

STEM
(Avec un Correcteur sonde )

 

Résolution (HAADF)

63 pm

TEM
(avec un correcteur image)

 

Résolution réseau

50 pm

 information limite (non linéaire)
(test des franges de young sur échantillon épais)

60 pm

 information limite (linéaire)
(3D FFT TEST sur échantillon mince)

90 pm