MET 200kV

Microscopes Électroniques en Transmission (MET)

JEM-NEOARM à correcteur d'aberrations intégré, en source Schottky ou Cold FEG

JEM-2100 LaB6
JEM-2100Plus electron microspcopeImages en mode MET ou STEM

Le microscope électronique JEM-2100Plus fournit des solutions pour un large éventail de problématiques dans les domaines des matériaux, la nanoélectronique et les sciences biologiques.

Piloté depuis une base MS Windows™, le JEM-2100Plus est intuitif, facile à utiliser avec des fonctions de contrôle à distance. Le système de contrôle avancé permet l'intégration du STEM HAADF, EDS et EELS.

Le JEM-2100 dispose d'une platine goniomètrique à haute stabilité, spécialement optimisée pour les applications de tomographie. La suite logicielle JEOL TEMography™ permet d'acquérir automatiquement toute une série d'images en mode MET ou STEM. Le module de reconstruction calcule automatiquement la reconstruction 3-D, le module de visualisation 3-D permet de visualiser l'image sur une variété d'axes. Le contrôle nanométrique X / Y piézo complètera une configuration avancée.

Le JEM-2100 dispose de trois lentilles condenseur indépendantes et produit une sonde dense suivant la taille sélectionnée. Cet atout permet d'améliorer les capacités d'analyse et de diffraction. Le système breveté JEOL Alpha Selector™ permet à un utilisateur le choix d'une variété de conditions d'illumination, depuis le mode faisceau convergent à l'illumination parallèle. Grâce à sa seconde lentille objectif, la microscopie de Lorentz est une fonction standard de ce microscope. Un diaphragme objectif amovible haut contraste équipe chaque modèle de pièce polaire. Une fois introduit, il offre un bon contraste et permet de pouvoir réaliser des analyses EDS.
Pour compléter les capacités analytiques du JEM-2100 un diaphragme de coupure des rayons X "Durs" est placé juste au-dessus de la lentille objectif. Les spectres ne sont plus entachés de pics parasites.

Ultra Haute
Résolution
(UHR)
Haute
Résolution
(HR)
Haute
Inclinaison
(HT)
Cryo
(CR)
Haut
contraste
(HC)
Résolution

Image Point par Point
Image Réseau


0.19nm
0.14 nm


0.23 nm
0.14 nm


0.25 nm
0.14 nm


0.27 nm
0.14 nm


0.31 nm
0.14 nm
Tension d'Accélération
Pas Minimum
80,100,120,160,200 kV, possibilté de descendre en dessous des 80kV
50 V
Stabilité
Tension d'Accélération
Courant Objectif

2×10–6/min
1×10–6/min
Lentille Objectif
Longueur Focale
Cs
Cc
Pas Minimum

1,9mm
0.5 mm
1.1 mm
1.0 nm
2.3 mm
1.0 mm
1.4 mm
1.5 nm
2.7 mm
1.4 mm
1.8 mm
1.8 nm
2.8 mm
2.0 mm
2.1 mm
2.0 nm
3.9 mm
3.3 mm
3.0 mm
5.2 nm
Taille de Sonde
Mode TEM

Mode EDS
Mode NBD
Mode CBD
diamètre de 20 à 200
diamètre de
1 à 5 µm
0.5 à 25 nm
diamètre
sélecteur alpha
1.0 à 25 nm
diamètre
sélecteur alpha
1.5 à 35 nm
diamètre
sélecteur alpha
2.0 à45 nm
diamètre
sélecteur alpha
diamètre de
10 à 500 nm
CB Diffraction
Convergent angle(2-α)
Acceptance angle
1.5 à 20 mrad ou plus
±10°
Grandissement
Mode Mag

Mode LOW Mag

Mode SA Mag
×2000 to 1,500,000 ×1500 à 1,200,000 ×1200 à 1,000,000 ×1000 à 800,000
×50 to 6000 ×50 à 2000
×8000 to 800,000 ×6000 à 600,000 ×5000 à 600,000 ×5000 à 400,000
Longueur de Camera
SA diff.

HD diff.
HR diff.*

80 to 2000 mm
100 à 2500 mm 100 à 2500 mm 150 à 3000 mm
4 to 80 m

333 mm
Platine Porte Objet

Angle d'Inclinaison
Débattement
±30° ±35° ±45° ±60°*** ±30°
2 mm (X,Y) 0.2 mm
(Z±0.1 mm)
2 mm (X,Y) 0.4 mm
(Z±0.2 mm)
EDS

Angle d'Azimut


25°


20 °

*    La chambre diffraction haute résolution 36mm est requise
**  avec le porte grille tomographie
*** EDS optionnel requis

note: La configuration doit être définie à la commande.

Carbone JEM-2100
JEM-2100
rein JEM-2100
Nb2O5 JEM-2100