MET 200kV

Microscopes Électroniques en Transmission (MET)

JEM-NEOARM à correcteur d'aberrations intégré, en source Schottky ou Cold FEG

JEM-NEOARM : le MET 30-200kV à correcteur d'aberrations
NEOARM-JEM200F - JEOL

Après l’énorme succès mondial de l’ARM-200F, JEOL présente son successeur : le NEOARM.

Reprenant tout ce qui a fait la réussite de l’ARM-200F, le NEOARM y ajoute de nouvelles fonctionnalités pour aider les chercheurs à aller encore plus loin. Nous n’avons pas amélioré que les performances de notre MET corrigé, nous nous sommes également attaché à le rendre plus agréable et plus simple à utiliser afin de mettre son incroyable puissance au service de tous.
Le NEOARM combine à la fois la résolution spatiale, le fort ou le faible courant, et la résolution énergétique de la source.
Le NEOARM possède la meilleure résolution garantie en usine en STEM à 200kV de 70pm grâce à notre  nouvelle source froide JEOL. Cette source froide est beaucoup plus souple d’utilisation qu’un monochromateur et permet de descendre à 0,3eV avec une brillance réglable. Cette nouvelle technologie de pointe froide, s’utilise immédiatement après le flash. Le Flash purifie la pointe et permet d’avoir une sonde plus petite et plus monochromatique : Flash and go : rapide et efficace. 

De très nombreuses fonctionnalités ont été développées pour le NEOARM :

  • Tout d’abord, il travaille avec un poste déporté (remote control). Ceci permet notamment de mieux s’adapter aux différents environnements de salles. Cependant, afin que ceci ne détériore pas le confort et la rapidité d’utilisation qu’apportait la réactivité de l’écran fluorescent, le NEOARM possède en standard deux caméras de visualisation ultra rapide.

  • La gamme de tension réglable du NEOARM est désormais en 30kV à 200kV.

  • Notre nouveau correcteur d’aberration sphérique pour le STEM : l’ASCOR, est capable de corriger jusqu’au 6ème ordre. Il résulte de l’association du Cold FEG et de l’ASCOR la plus faible aberration chromatique jamais vue ce qui explique notamment les excellentes résolutions même à 30kV.

  • Le correcteur d’aberration sphérique pour le TEM a également été retravaillé. La nouvelle génération du CETCOR inclue notamment le DeScan System.

  • Afin que vous puissiez profiter pleinement de ces nouveaux correcteurs, JEOL à implémenté dans le logiciel du NEOARM son système COSMO™ d’alignement automatique des correcteurs. COSMO™ ne nécessite bien entendu aucun échantillon spécial pour être lancé, il alignera simplement et efficacement vos correcteurs pour rendre accessible à tous, l’accès à la résolution atomique.

  • NEOARM accueille également la nouvelle évolution de son célèbre ABF : L’e-ABF qui permet d’améliorer la résolution et le contraste de vos images sur les éléments légers (solution unique à JEOL).

  • Le développement de Perfect Sight est également un tournant dans le monde des détecteurs HAADF. Ce détecteur hybride fournit un contraste amélioré et de parfaites images STEM quantitatives quelque soit  la tension d’accélération.
Résolution

Résolution STEM HAADF1)

0.08 nm 2)(à 200kV source Schottky) /0,078nm avec une pointe froide

Résolution en TEM :
Point image

réseau


0.19 nm (at 200kV) 0.11 nm with TEM Cs corrector 3) (à 200kV)

0.10 nm

Grandissement

STEM 200 to 150,000,000x

MET

50 to 2,000,000x

Canon

Schottky / Cathode Froide

Tensions d’accélerations

80 to 200 kV 4)
Platine
Platine

Eucentrique avec déplacement Piezo-électrique

taille de l'échantillon 3 mm dia.
angle d'inclinaison +/-25° avec un porte-objet double tilt pour une piece polaire UHR
Déplacements X/Y: ±1.0 mm
Cs Correctors
Correcteur STEM de Cs Standard
Correcteur TEM de Cs Optionel
Accessories (EDS)/ (EELS)/ CCD camera, etc.

 

1) With HAADF (high-angle annular dark-field) detector
2) Verified using Ge(112) specimen
3) Option
4) Option: 60 kV

Pour de plus amples informations, merci de bien vouloir nous contacter.

Pr Ricolleau_CFEG CsTEM_CoPt
graphene
ABF Fe3O4
GaAS
SrTiO3
Dr DEVAUX IJL Laser polarisé_R 0,082nm
Pr Ricolleau CFEG CsTEM Fe2O3

Appli. correcteur Cs STEM :

-voici un article de 'semiconductor  science and technolgy (31 2016)' sur la quantification à l'échelle sub-nanomètrique du contraste HAADF, et de son intérêt pour contrôler la composition des couches ultra-fines.:'sub-nanometrically resolved chemical mappings of quantum-cascade laser active regions'  par : Konstantinos Pantzas, Grégoire Beaudoin, Gilles Patriarche,Ludovic Largeau, Olivia Mauguin, Giulia Pegolotti, Angela Vasanelli, Ariane Calvar, Maria Amanti, Carlo Sirtori and Isabelle Sagnes.

- Dans cette dernière publication de 'Nature Communications'  : 'Incorporation and redistribution of impurities into silicon nanowires during metal-particle-assisted growth' par Wanghua Chen, Linwei Yu, Soumyadeep Misra, Zheng Fan, Philippe Pareige, Gilles Patriarche,


Sophie Bouchoule & Pere Roca i Cabarrocas

Le couplage du JEM-2200FS Cs STEM de Gilles Patriarche (LPN) couplé à la sonde atomique permet de déterminer la concentration d'impuretés métalliques dans des nano-files de Silicium.

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- Xavier sauvage du GPM de Rouen nous livre un très bel article dont le but est de clarifier le rôle exact de l’étain dans les cinétiques d’oxydation de CuSn, avec une attention particulière portée à la nucléation et à la croissance des nano-particules SnO2, précipitant dans la matrice de cuivre (cfc). Dubey et  al. ont mis a profit différentes techniques S/TEM (HRTEM, EFTEM, HR-STEM, STEM HAADF) sur un JEOL ARM200F corrigé sonde pour l’analyse des particules SnO2.Cette étude permet de mieux comprendre les différents mécanismes présents lors de l’oxydation de CuSn. Vous y trouverez également de très bels images HAADF

“Atomic-scale characterization of the nucleation and growth of SnO2 particles in oxidized CuSn alloys”
M. Dubey, X. Sauvage, F. Cuvilly, S. Jouen, B. Hannoyer, Scripta Materialia 2012

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-Le Pr. Florian Banhart de l’IPCMS dans cette très belle publication nous montre comment le JEM-2100F Cs STEM est utilisé pour créer des lacunes d’une taille atomique dans un nanotube de carbone. Des atomes de carbone sont éjectés et la stabilité de cette lacune va alors être étudiée

NANOLETTERS 2009 vol 9 No6 2285 2289 Julio A. Rodriuez-Manzo & Florian Banhart

'Creation of individual vacancies in carbon nanotube by using an electron beam of 1A diameter'




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- Gilles Patriarche (LPN) nous montre qu’il est possible de détecter une monocouche d’organométallique sur un nanodot d’Or en STEM et de la détecter également par EDS. Cette superbe réalisation effectuée avec son JEM-2200FS corrigé sonde lui a valu la première page de Small.

Small volume 7 • No. 18 – Septembre 19 2011

Nicolas Clément ,Gilles Patriarche , Kacem Smaali , François Vaurette , Katsuhiko Nishiguchi , David Troadec , Akira Fujiwara , and Dominique Vuillaume ‘Large Array of Sub-10-nm Single-Grain Au Nanodots for use in Nanotechnology’

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Les nouveaux alliages plus légers et plus résistants sont des enjeux majeurs de l’aéronautique. Williams Lefebvre (GPM) nous livre une très belle étude sur les alliages Mg-Nd un concurrent sérieux des alliages base aluminium. De remarquables photos HAADF Ultra haute résolution (ARM-200F) nous montre la précipitation des chapelets d’atomes de Nd dans leur matrice de Magnésium.

APPLIED PHYSICS LETTERS 100, 141906 (2012) W. Lefebvre, V. Kopp, and C. Pareige

‘Nano-precipitates made of atomic pillars revealed by single atom detection in a Mg-Nd alloy’

      

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- L’université d’Aalto (Finlande) s’est récemment équipée d’un microscope JEM-2200FS FEG avec un double correcteur Cs TEM et STEM. Dans cet article, les auteurs présentent les performances et les applications de leur équipement en étudiant des nanotubes de carbone à 80kV. Le microscope a  montré d’excellentes performances à 80kV ainsi qu’une grande souplesse d’utilisation du double correcteur. Plusieurs techniques ont été employées : imagerie corrigée, diffraction, HAADF-STEM. L’espace inter couche du graphite dans un nanotube de carbone multifeuillets a été déterminé par HAADF, et le diamètre des nanotubes de carbone monofeuillets  a pu être mesuré grâce à l’utilisation de la correction des aberration sphériques.

Performance and early applications of a versatile double aberration-corrected
JEOL-2200FS FEG TEM/STEM at Aalto University

'Hua Jiang, Janne Ruokolainen, Neil Young, Tetsuo Oikawa, Albert G. Nasibulin, Angus Kirkland, Esko I. Kauppinen'

 

Appli. correcteur Cs MET (image) :

Image Haute résolution réalisée par le laboratoire du Prof Christian Ricolleau (MPQ paris 7)

avec un ARM-200F Cold FEG

Il s'agit de nanoparticules de CoPt qui ont poussées en épitaxie sur un substrat de NaCl.

Certaines formes des cubes et d'autres formes des triangles sur la surface du substrat.



Ces nanoparticules ont été fabriquées pour étudiées l'influence de la taille sur la température de transition de phase ordre / désordre qui intervient dans cet alliage.

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“Dislocation-Driven Deformations in Graphene”

Jamie H. Warner, Elena Roxana Margine,

Masaki Mukai, Alexander W. Robertson,

Feliciano Giustino, Angus I. Kirkland

Science 13 July 2012: Vol. 337 no.

6091 pp. 209-212

> lire

Le graphène est un cristal bidirectionnel possédant des propriétés intrinsèques (mobilité électronique, vitesse de déplacement des électrons, auto-refroisissement très rapide, …) très intéressantes pour des applications dans le domaine de la micro-électronique. Warner et al. ont étudié la dynamique des paires de dislocations et leurs impacts sur la structure cristalline du graphène. Les dislocations ont été étudiées en HRTEM à 80kV à l’aide d’un TEM JEOL JEM-2200CMO, équipé d’un double correcteur (image et sonde) ainsi que d’un monochromateur à double filtre de Wien. Les auteurs ont mis en évidence l’influence des dislocations sur les champs de déformation et on pu, grâce à l’utilisation du monochromateur associé à la technique HRTEM, cartographier précisément la position des atomes uniques de carbone.