Préparation d’échantillons

La capacité de produire des sections polies ainsi que des lames minces de précision est la clef d'une bonne analyse.
Les équipements JEOL pour la préparation d'échantillons vous permettront d'exploiter vos échantillons à leur maximum.

GAMME D’ÉQUIPEMENTS JEOL

Plasma Cleaner
Plasma Cleaner

Équipement permettant l’élimination des contaminants hydrocarbures avant le passage de l’échantillon au microscope électronique.

Ion Slicer
Ion Slicer

Équipement innovant de préparation de lames minces
d'échantillons pour MET, STEM, MEB,
Microsonde de Castaing et Microsonde Auger.

Polisseur ionique - CP
IB-19530CP - Cross Section Polisher

Équipement de préparation d'échantillons pour MEB, Microsonde de Castaing et Microsonde Auger.

Métalliseur évaporateur carbone
Métalliseur évaporateur carbone

Évaporateur carbone en vide secondaire propre, sans huile et automatique

JEOL produit des équipements de haute précision, développés pour préparer des échantillons pour le MEB, le MET, la Microsonde de Castaing ou encore la microsonde Auger. 
De la FIB pour les échantillons nanométriques au polisseur ionique pour de larges surfaces, nous offrons une sélection d'instruments spécialisés pour vos besoins vous permettant de préparer rapidement, facilement et précisément vos échantillons quelle que soit leur nature: semi-conducteurs, métaux, céramiques, polymères, multi-couches, etc.

Pour la métallisation d'échantillons non-conducteurs (pour l'analyse quantitative en EDS par exemple), JEOL propose un évaporateur carbone (ou tout autre type de métal) fonctionnant sous vide secondaire. Ce très bon vide permet d'évaporer sur l'échantillon de très fines couches et ainsi de rester invisible en imagerie même à très fort agrandissement.

Pour la préparation de lames TEM, EBSD 3D, etc, en FIB, avec observation simultanée, consulter la catégorie FIB et MEB-FIB à double colonne.