Ion Slicer

Préparation d’échantillons

Appareil de préparation d'échantillon à très faible angle de faisceau.

EM-09100IS Ion Slicer™
EM-09100IS Ion Slicer™EM-09100IS Ion Slicer™

L’Ion Slicer permet de préparer des échantillons minces sans l’aide de solvants ou de produits chimiques et ne nécessite rien de plus qu’une simple découpe rectangulaire (pas de découpe de disque ou  de « dimple grinding » (érosion en cuvette)).

L’Ion Slicer permet d’obtenir des échantillons minces de manière plus rapide et plus facile que les outils conventionnels de préparation d’échantillons. Un faisceau d’ions Argon de faible énergie et d’angle faible irradie l’échantillon. Une courroie mince fait office de masque et permet de faibles angles d’irradiation du faisceau d’Ar (de 0° à 6°). Cette configuration permet de réduire considérablement les dégâts d’irradiations du faisceau d’ions sur l’échantillon et d’éviter l’érosion sélective. On obtient ainsi une excellente lame mince avec peu d’artefacts liés à l’abrasion, même dans les matériaux les plus mous. L’Ion Slicer permet de préparer efficacement des lames minces provenant d’échantillons composés de différents matériaux, y compris les échantillons composites poreux.

Tension d'accélération
1 à 8 kV
angle du faisceau
jusqu'à ±6° (0.1° de pas)
diamètre du faisceau
500 µm (FWHM)
vitesse d'érosion
5 µm/min (8 kV, silicium)
gaz
Argon
taille échantillon
2.8 mm (longueur) x 0.5 mm (largeur) x 0.1 mm (épaisseur)
mesure de pression
Gauge Penning
caméra CCD a l'intérieur
dimension et poids
IS 500 mm (L) x 600 mm (l) x 547 mm (H), 63 kg
pompe primaire 150 mm (W) x 427 mm (D) x 230.5mm (H), 16kg
écran LCD 326 mm (L) x 173 mm (l) x 380 mm (H), 3.7 kg