Le Cross Section Polisher (ou CP) est un équipement pour la préparation d'échantillons pour les MEB, les microsondes de Castaings (EPMA) ou encore les microsondes Auger.

Le CP est un polisseur ionique qui vous permettra de préparer tous les types d'échantillons : qu'ils soient durs, mous, en multicouches de ductilité différentes, ils seront tous très aisément préparés en préservant les structures et sans artefacts de polissage.
Son faisceau d'Argon, couplé à de nombreuses innovations JEOL brevetées polira des sections transverses de tous les types de matériaux sur de grandes surfaces.
Le faisceau ayant un angle d'incidence extrêmement faible, l'argon ne s'implémente pas à la surface de l'échantillon mais le poli proprement en le laissant vierge de tout artefact.

Avec le CP, obtenir une surface "miroir" est désormais facile et automatique ! Et ceci même sur des matériaux difficiles à polir comme des matériaux mous types cuivre, aluminium, polymères ou comme les matériaux durs type céramique ou verre.

Grâce à la caméra intégrée, vous pourrez placer votre échantillon avec une excellente précision pour avoir toujours l'assurance de réussir votre préparation.

Pour de plus amples informations sur le dépôt de carbone interne au CP, sur la tension d’accélération des ions, sur le calcul de la vitesse d’érosion, sur le porte-objet rotation, veuillez contacter nos services : blandine@jeol.fr

Tension d'accélération de l'Argon	2 à 8 kV
Diamètre du faisceau d'ion	500 µm (en std) ou plus
Taille de l'échantillon	11 mm (W) x 10 mm (L) x 2 mm (T) en standard, Certains porte-objets permettent de mettre des échantillons de plus grande dimension (option).
Platine	axe X ±10 mm; axe Y ±3 mm
Angle d'ajustement de l'échantillon	+5°
Angle de tilt pendant le polissage	±30°
3 modes	Mode automatique Mode intermittent Mode finition
Interface	Écran tactile, caméra
Gaz	Argon
Porte-objet supplémentaire	Porte-objet rotatif (option)
Mesure de pression	Gauge Penning
Pompe principale	TMP
Pompe secondaire	Pompe à palettes
Dimensions et Poids	545 mm (W) x 550 mm (D) x 420 mm (H), 64 kg

Les caractéristiques de ce produit peuvent changer sans notification.

Polissage ionique sur échantillons ferromagnétiques

Polissage ionique sur un échantillon biologique : l'os

Polissage ionique sur des échantillons polymères

Polissage ionique sur des matériaux liés à l'énergie

Polissage ionique sur un échantillon de peinture pour voir la migration du plomb

Caractérisation géochimique de schiste

Analyse de papier par CP

Analyse de la texture et porosité d’argile et de schiste