Spectromètre RPE JES-X3

Nouvelle conception de l’appareil à micro-ondes. Sensibilité nettement améliorée grâce au mode haute sensibilité « High Sensitivity Mode »

La résonance de spin électronique (ESR), ou résonance paramagnétique électronique (EPR), est la méthode de choix pour analyser les électrons non appariés d’un matériau.
Pourquoi est-ce si important ? Parce que l’état de ces électrons influence directement les propriétés et les performances du matériau. Qu’il s’agisse de composants électroniques, de catalyseurs ou d’échantillons biologiques, solides, liquides ou gazeux, l’ESR apporte une analyse complète et précise. Aujourd’hui, même une infime quantité d’électrons non appariés peut impacter les fonctions d’un matériau, exigeant l’utilisation de spectromètres à la sensibilité accrue. Grâce à son oscillateur Gunn à faible bruit, la série de spectromètres RPE X3 offre une sensibilité inégalée pour des résultats d’une précision exceptionnelle et montre une grande polyvalence avec ses accessoires complémentaires.

Principales caractéristiques

  • Haute sensibilité : très utile pour étudier les échantillons dilués ou ceux contenant de faibles concentrations d’espèces paramagnétiques.
  • Large gamme de fréquences : le système couvre une large gamme de fréquences, ce qui lui permet de détecter des centres paramagnétiques variés, y compris les métaux de transition et les radicaux organiques.
  • Système de contrôle et logiciel de pointe : les systèmes JEOL sont équipés d’un logiciel convivial de pointe qui permet de contrôler les expériences, d’analyser les spectres et d’automatiser les processus. L’interface permet également de personnaliser les expériences et le traitement des données.
  • Conception multifonctionnelle : l’instrument peut prendre en charge différentes applications, des études de base sur les radicaux libres jusqu’aux recherches plus complexes telles que les mécanismes de réaction en chimie et en science des matériaux.
  • Capacités cryogéniques : le système peut fonctionner à des températures extrêmement basses grâce à des cryostats intégrés, ce qui permet d’étudier des échantillons ou des phénomènes sensibles à la température. (en option)
  • Applications :
    Étude des radicaux libres dans les systèmes biologiques.
    Analyse des défauts dans les semi-conducteurs et les matériaux solides.
    Étude des réactions d’oxydo-réduction dans les processus chimiques.
X310, X320, X330

Nouvelles fonctions d’acquisition et d’analyse des données

  • Interface de contrôle facile à utiliser sous Windows10™.
  • Temps de réglage plus court.
  • Mesures séquentielles entièrement paramétrables de façon progressive ou aléatoire (par exemple : la température de l’échantillon, la puissance des micro-ondes, etc.)
  • Démarrage des mesures en mode mains libres à l’aide d’une pédale (en option) afin de minimiser le temps mort après que les réactifs ont été mélangés pour générer des radicaux à courte durée de vie.
  • Affichage amélioré des données multidimensionnelles.
  • Traitement par lots des données mesurées séquentiellement, y compris la soustraction de l’arrière-plan.
windows interface. 3D display

Exemple d’installation

Exemple d'installation JES-X3

CARACTÉRISTIQUES

SPECTROMÈTRE

JES-310 : 0,65
JES-320 : 1,3
JES-330 : 1,4

(y compris table SHF)

0,0001 à 200 mW

8750 - 9650 GHz

CAVITÉ

Cylindrique TE/1800 ou plus

Commande auto/motrice

JES-X310 : inclus dans le châssis magnétique
JES-X320 : 683×613×895 mm
JES-X330 : 703×803×1,114 mm

JES-X320 : 300 kg
JES-X330 : 500 kg

Logiciel d’analyse et de simulation

Les caractéristiques de ce produit peuvent changer sans notification.

Télécharger la brochure

Télécharger les notes d'application

Produits associés