Improvement of SEM-SXES analysis for beam sensitive materials by using cooling stage
Intérêt de l’utilisation du SXES couplé à une platine refroidissante pour l’analyse des matériaux sensibles sous le faisceau d’électrons.
NeoScope JCM-7000 – Le MEB de table intuitif, flexible et puissant
De l'image optique à l'observation MEB avec l’analyse élémentaire en direct. Accélérez votre vision au-delà du microscope optique.
Étude du bore avec le détecteur SXES
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Microscopie corrélative sur une pyrite : analyses BED, Raman, EDS, CL et SXES
Une série d’analyses en microscopie corrélative sur une pyrite et [...]
Nouveau poster sur le SXES (application lithium)
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