Pour enlever les matériaux résiduels
L’Ion Cleaner EC-52000IC est un appareil permettant d’enlever les matériaux résiduels présents sur l’échantillon ainsi que la couche de contamination d’hydrocarbure produite lors des phases de pré-traitement et de stockage de l’échantillon.
Idéal contre la contamination des échantillons
De plus, l’Ion Cleaner est la solution idéale contre la contamination des échantillons causée par la polymérisation des hydrocarbures lorsque ces derniers sont irradiés par un faisceau d’électrons.
Le nettoyage de l’échantillon se fait directement sur le porte-objet et est compatible avec les porte-objets MET et MEB JEOL.
Pour la préparation d’échantillons cryo
Il est aussi possible d’utiliser l’Ion Cleaner pour rendre des grilles MET hydrophobes pour la préparation d’échantillons cryo.
Compact et facile d’utilisation
Cet appareil est compact, très facile d’utilisation et ne nécessite aucun consommable gaz.
RETOUR UTILISATEURS
Avec l’Ion Cleaner de JEOL, nous avons pu travailler en mode STEM et faire des analyses X locales à l’échelle atomique sur des nano-objets uniques pendant plusieurs minutes sans contamination notable. Ceci nous a évité, dans de nombreux cas, de longues périodes de « Beam Shower ». En un mot, un accessoire de préparation d’échantillons indispensable pour le STEM qui, en plus, est d’une facilité d’utilisation déconcertante : on installe le porte-objet dans l’Ion Cleaner, on appuie sur un bouton et c’est tout.
