Détecter toutes les gammes d’énergie
Gather-X permet de détecter toutes les gammes d’énergie, et surtout les rayons X de faible énergie comme la raie K du Lithium.
Gather-X est un nouveau détecteur EDS sans fenêtre pour la série JSM-IT800. Il est entièrement intégré dans l’interface logicielle du JSM-IT800, ce qui permet une utilisation sûre et confortable. Ce détecteur a été développé pour augmenter la sensibilité de détection. il s’adresse à tous types de marchés : batteries, semi-conducteurs, imprimerie, sidérurgie, catalyseurs etc..
Détection et analyse des rayons X
2 en 1 : Détection et analyse des rayons X sur l’ensemble du spectre, des faibles énergies comme le Li-K(54eV) jusq’aux rayons X de haute énergie U-L(13,6keV)
Échantillon : Anode en Si pour toute batterie lithium-ion à l’état solide
Conditions d'analyse : tension d'accélération 3 kV, WD 7 mm, courant de sonde 0,6 nA, temps de mesure 15 min. SEM : JSM-IT800 ＜SHL＞
Cartes EDS du lithium (Li-K : 54 eV) et du silicium (Si-L : 90 eV). Les pics d’énergies des différents éléments même très proches l’un de l’autre, sont séparés et cartographiés, la cartographie donne la distribution du lithium et du silicium sur l’anode en silicium.
Par rapport au EDS standard (Dry SD™ 100 mm2), le taux de comptage X est plus élevé avec l’EDS sans fenêtre, ce qui améliore la précision de la séparation des pics. Le taux de comptage élevé permet d’acquérir une distribution plus précise.
Le bout du Gather-X est équipée d’un piège à électrons qui permet de travailler jusqu’à une tension d’accélération de 30kV.
Vous n’avez pas besoin d’avoir deux EDS différents car le Gather-X peut analyser toute la gamme d’énergie.
Li-K (54eV)
Analyse en mode WD court / BD
L’analyse avec ce détecteur se fait à une distance de travail plus courte que la distance de détection standard (7 mm). Ainsi la courte distance de travail combinée à l’utilisation du mode BD (polarisation de la platine), permet l’acquisition d’une carte EDS à très haute résolution spatiale à une faible tension d’accélération.
Exemple de cartographie de nanoparticules d’argent (Ag) (taille 18 nm) sur de l’oxyde de titane, observées à ×200 000
Les cartes EDS à haute résolution spatiale sont efficaces pour l’analyse de particules fines, telles que les particules de catalyseur.
Échantillon : Ag nanoparticles on titanium oxide
Conditions d'analyse : tension d’accélération 5 kV, (bias to specimen : –5 kV), WD 4 mm, courant de sonde 1 nA, temps de mesure 9 min. SEM : JSM-IT800 ＜SHL＞
« Zero-noise » : réduction du bruit de fond instantanée !
Il existe une fonction permettant de réduire le bruit autour de 0 keV appelé zero-noise. Cette fonction permet de distinguer le pic de bruit des pics de rayons X à faible keV et de faible intensité.
Gather-X est intégré directement à l’interface SEM Supporter du microscope
Vous pouvez faire vos analyses avec le Gather-X directement sur l’interface du microscope SEM Center.
Le refroidissement du capteur à rayons X et l’insertion du Gather-X peuvent être effectués d’un seul clic.
EDS viewer vous spécifie la position du détecteur Gather-X par rapport à la platine.
Il existe des systèmes de sécurité pour prévenir des collisions entre le détecteur et les différents accessoires identifiés dans la chambre.
