F2 – MET-FEG (200 kV)

Une classe innovante de microscopes électroniques en transmission

Le F2 est équipé de la nouvelle génération de cathode froide (Flash & Go) développée sur les derniers ARM. Cette source procure une brillance, une taille de sonde, une dispersion énergétique et une durée de vie, très supérieure à celle d’une source Schottky.

Cet angle solide est le double de ce qui se fait de mieux à l’heure actuelle sur les MET corrigés et non corrigés. Il permet de travailler avec des courants très faibles, sur des échantillons sensibles, de réaliser des cartographies en quelques secondes, de travailler sur les éléments légers et de réaliser des cartographies atomiques.

JEOL a apporté un soin particulier à ne pas opposer le beau au fonctionnel. Mais à accorder de l’importance à l’expérience sensorielle et donc au plaisir quotidien de travailler avec un bel outil, le F2, en joignant l’utile à l’agréable. Cette réflexion esthétique a été menée de concert avec un renforcement des stabilités électriques et mécaniques nécessaires à l’obtention des hautes résolutions avec une cathode froide.
De plus, un effort très important a été réalisé sur l’ergonomie afin de rendre ce MET accessible au plus grand nombre.

Ces quatre lentilles permettent avec une grande souplesse de gérer l’angle de convergence et la taille de la sonde. Une liberté totale est laissée au scientifique pour réaliser en TEM/STEM, champ sombre, les expériences les plus singulières.

Le F2 incorpore un nouveau système de balayage capable de balayer le faisceau en mode image. Ce système permet également de réaliser du STEM/EELS en mode faible grandissement.

Le F2 utilise une platine permettant de piloter la platine avec des pas de l’ordre du picomètre. Cette platine peut grâce à une vitesse de déplacement asservie, se mouvoir rapidement à faible grandissement et plus finement à fort grandissement permettant un déplacement aisé en toutes circonstances.

L’insertion/rétraction du porte-objet se fait automatiquement, supprimant ainsi le risque d’entrée d’air et donc d’un éventuel endommagement du microscope. L’angoisse de l’insertion et de la rétractation appartient au passé.

Le F2 incorpore un dispositif ECO lui permettant de minimiser son impact carbone et de réduire la facture par une consommation 5 fois inférieure à un MET de génération précédente. Cette fonction est programmable.

JEOL a développé une cartouche de transfert entre le FIB et le MET ainsi qu’un porte-échantillon TEM dédié qui facilitent le lien entre les opérations MET et FIB.
La cartouche se transfère facilement entre le porte-échantillon FIB et le porte-échantillon TEM d’une simple pression, ce qui élimine la nécessité de manipuler une lamelle TEM après le traitement.

> FIB et MEB-FIB à double colonne

Les caractéristiques de ce produit peuvent changer sans notification.

Canon Cold FEG amélioré
Analyse de l’état des liaisons chimiques des allotropes de carbone par EELS

Échantillon de carbone allotrope