Préparer des échantillons pour microscope électronique à balayage (MEB), microsonde de Castaings (EPMA) ou Auger
Le polisseur ionique IB-19530CP (Cross section Polisher ou CP) vous permet de préparer tous types d’échantillons : qu’ils soient durs, mous, en multicouches, de ductilité différentes. Ils sont tous très facilement préparés de façon à préserver les structures et obtenir une coupe sans altération.
Son faisceau d’argon, couplé à de nombreuses innovations JEOL brevetées, polit des sections transversales de tous types de matériaux sur de grandes surfaces.
Le faisceau ayant un angle d’incidence extrêmement faible, l’argon ne s’implante pas à la surface de l’échantillon et permet un polissage net sans défaut.
Avec le polisseur ionique, obtenir une surface « miroir » est désormais facile et automatique ! Et ceci, même sur des matériaux difficiles à polir comme des matériaux mous (cuivre, aluminium, polymères…) ou durs (céramique ou verre).
Grâce à la caméra intégrée, vous pouvez placer votre échantillon avec une extrême précision pour avoir toujours l’assurance de réussir votre préparation.
Pour de plus amples informations sur le dépôt de carbone, sur la tension d’accélération des ions, sur le calcul de la vitesse d’érosion, sur le porte-objet rotatif, veuillez contacter nos services : sales@jeol.fr
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