JED-2300 Analysis Station Plus

Le système JED-2300 Analysis Station Plus est la solution proposée par JEOL pour l’analyse EDS. Il se compose d’une partie logicielle et d’un ou deux détecteurs JEOL DrySD™ (Dry Silicon Drift).

Le système JED-2300 Analysis Station Plus permet d’effectuer une analyse élémentaire en utilisant les raies caractéristiques X générées par l’échantillon.
Ce système EDS est entièrement intégré au microscope pour une gestion complète des données (imagerie et analyse) avec une interface utilisateur facile à comprendre.

Icônes de fonctionnement
Les icônes sont disposées de gauche à droite et guident l’utilisateur à chaque étape de la collecte de données. En outre, les fonctions de chaque icône sont affichées pour une meilleure compréhension visuelle.

Affichage de l’image indexée
L’opérateur peut accéder rapidement aux données acquises à partir de l’affichage de l’image indexée.

Liste des données d’analyse
Les images et les résultats d’analyse sont automatiquement enregistrés dans le même dossier pour un accès rapide. Lorsque l’opérateur sélectionne une image indexée, les données des zones respectives s’affichent simplement dans la liste des données d’analyse.

Lors de la superposition de pics, il est difficile de savoir quels éléments sont présents et en quelle proportion. JEOL propose une solution pour l’identification visuelle des pics (VID). Le logiciel simulera la forme d’un pic en incluant les différents éléments en présence et le superposera au spectre acquis. Il sera possible de vérifier si la nouvelle forme de pic correspond bien à ce qui a été acquis lors de l’analyse, permettant ainsi de déterminer la constitution exacte de l’échantillon.

Dans l’exemple de gauche, la forme du pic du Bismuth (Bi) est différente entre le spectre acquis (rose) et le spectre calculé (bleu). Un nouvel examen de la position du pic de Bismuth a indiqué la présence de Plomb (Pb). Lorsque le plomb a été ajouté aux résultats de l’analyse, les deux formes de pic correspondent. Ce résultat a permis de confirmer la présence de plomb dans l’échantillon.

Lors de l’acquisition d’une cartographie élémentaire, le logiciel calcule les spectres pour chaque pixel et les enregistre. La fonction d’analyse « Play Back » permet de suivre l’évolution temporelle de la cartographie. Chaque trame est sauvegardée individuellement, ce qui permet éventuellement de sélectionner les trames d’intérêt. Cette fonction peut aider à réaliser une large gamme d’analyses.