JEM-120i Amiante (120 kV)

Ce nouveau MET a été développé pour optimiser la production et le rendement. Pour ce faire, il repose sur 3 concepts : « compact », « facile à utiliser » et « évolutif ». Avec son nouveau design, ce MET est un instrument que tout le monde peut s’approprier facilement, et ce de l’utilisation jusqu’à l’acquisition de données tout en proposant une maintenance rapide et minimaliste.

Ce microscope donne un accès rapide à l’imagerie, la diffraction et l’analyse chimique EDS dont vous avez besoin pour l’analyse des fibres d’amiantes.

Pour cette nouvelle génération de MET 120kV, JEOL a porté une attention toute particulière à son nouveau design. La réduction significative de la taille du microscope permet d’occuper beaucoup moins de place au sol. Ce qui permet d’optimiser l’espace de travail.

• L’ergonomie du microscope a été réinventée : l’espace pour les jambes a été adapté, les pupitres de commandes ont été simplifiés et sont personnalisables, l’interface graphique a été repensée pour être encore plus conviviale.

• La nouvelle caméra de visualisation/acquisition Sentinelle développée par JEOL allie une très grande vitesse de lecture (30 fps) à une grande sensibilité. Elle vous permettra de faire des acquisitions d’images MET et de diffraction extrêmement facilement et rapidement.
• La caméra Sentinelle est compatible avec le logiciel JEOL d’analyse amiante : Asbestos Map.
• Le mode « Butler » facilite l’acquisition des données, permettant à tout utilisateur, quel que soit son niveau, d’acquérir facilement des données. Une fois l’observation terminée, vous pouvez changer le porte-échantillon tout en gardant l’émission allumée.

• Maintenance rapide et minimaliste : Un nouveau système de filament permet son échange rapidement et facilement, vous permettant de réduire le temps de maintenance.

• Le JEM-120i est équipé de diaphragmes entièrement automatisés.
• Le JEM-120i intègre également en option un module à balayage numérique STEM.
 Ce dernier permettra d’obtenir des images HAADF et champ clair qui apporteront une information supplémentaire tant en tomographie qu’en observation classique. Le couplage avec l’EDS JEOL fournira une cartographie chimique des éléments constituant l’échantillon.

Une caméra CMOS à haute sensibilité qui permet d’acquérir des images/diffraction en très haute résolution.

Toute la gamme de porte-objets des modèles JEM-1400 est compatible avec le JEM-120i.