Présentation
Le microscope électronique JEM-2100Plus fournit des solutions pour un large éventail de problématiques dans les domaines des matériaux, la nanoélectronique et les sciences biologiques.
Le JEM-2100Plus est intuitif, facile à utiliser avec des fonctions de contrôle à distance. Le système de contrôle avancé permet l’intégration du STEM HAADF, EDS et EELS.
Le JEM-2100Plus dispose d’une platine goniomètrique à haute stabilité, spécialement optimisée pour les applications de tomographie. La suite logicielle JEOL TEMography™ permet d’acquérir automatiquement toute une série d’images en mode MET ou STEM. Le module de reconstruction calcule automatiquement la reconstruction 3D, le module de visualisation 3D permet de visualiser l’image sur une variété d’axes. Le contrôle nanométrique X / Y piézo complètera une configuration avancée.
Le JEM-2100Plus dispose de trois lentilles condenseur indépendantes et produit une sonde dense suivant la taille sélectionnée. Cet atout permet d’améliorer les capacités d’analyse et de diffraction. Le système breveté JEOL Alpha Selector™ permet à un utilisateur le choix d’une variété de conditions d’illumination, depuis le mode faisceau convergent à l’illumination parallèle. Grâce à sa seconde lentille objectif, la microscopie de Lorentz est une fonction standard de ce microscope. Un diaphragme objectif amovible haut contraste équipe chaque modèle de pièce polaire. Une fois introduit, il offre un bon contraste et permet de pouvoir réaliser des analyses EDS.
Pour compléter les capacités analytiques du JEM-2100Plus un diaphragme de coupure des rayons X « Durs » est placé juste au-dessus de la lentille objectif. Les spectres ne sont plus entachés de pics parasites.
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