Facilité d’acquisition des données pour tous les types d’échantillons
Le JSM-IT210 de JEOL est le microscope électronique à balayage le plus compact de sa catégorie.
Ce microscope est doté de modes innovants qui simplifient l’acquisition automatique d’images et d’analyses en vous permettant de sélectionner facilement vos zones d’intérêt. Le JSM-IT210 représente la nouvelle génération des microscopes électroniques à balayage, alliant compacité, puissance et automatisation, vous libérant ainsi de la nécessité d’être constamment présent devant l’appareil.
Caractéristiques
Le nouveau mode : Specimen Exchange Navi
Suivre le mode Specimen Exchange Navi (SNS) pour placer l’échantillon, il s’agit d’un système de navigation par étape. Cet accompagnement élimine le risque d’erreurs humaines et accélère le processus de changement d’échantillon. Il constitue un outil essentiel en maximisant le temps consacré à l’analyse.
Se préparer à l’observation pendant le pompage
Démarrage automatique de l’observation
*1 Le système de navigation (SNS) est en option.
*2 Le SNSLS est optionnel. Il peut être utilisé en même temps que le SNS.
*3 La caméra dans la chambre d’observation est optionnelle.
De l’image optique à l’image électronique sans discontinuité Zeromag
* Le système de navigation (SNS, en option) est nécessaire pour l’acquisition d’images optiques.
EDS intégré pour une composition élémentaire en temps réel pendant l’observation* Live Analysis (analyse en direct)
* Les modèles A (analyse) ou LA ( Low vacuum et analyse) sont requis pour l’analyse de la composition élémentaire avec EDS.
Automatisation pour une meilleure productivité Simple SEM
Ce microscope automatise la collecte d’images à de multiples endroits, conditions et grossissements.
Outils pour l’amélioration de la vitesse d’analyse
Déplacez les positions d’analyse avec précision.
EDS standard grand diamètre : 60 mm2 – Pour une analyse rapide
- Analyse rapide
Le détecteur EDS standard de 60 mm² du JSM-IT210 permet d’obtenir une analyse de meilleur qualité en considérablement moins de temps que ne le permettent des détecteurs de surface et donc d’angle solide plus restreint. L’analyse multi-points peut également être réalisée plus efficacement.
- Application aux échantillons sensibles aux dégâts d’irradiation
Un détecteur EDS de petite surface (et donc d’angle solide faible) nécessite un courant important pour l’analyse. Les échantillons sensibles au faisceau d’électrons sont alors endommagés par l’irradiation, ce qui affecte négativement la cartographie élémentaire chimique.
L’EDS de 60 mm² permet d’acquérir une cartographie d’éléments chimiques avec un courant de sonde plus faible.
Cela permet une analyse rapide tout en minimisant les dommages causés par les dégâts d’irradiation.
Des cartes d’éléments rapides et claires
L’EDS 60 mm² permet d’obtenir une cartographie claire des éléments, même en une minute de mesure.
Image d’électrons secondaires
Affichage superposé multi-couleur
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