JSM-IT710HR

Une visibilité nette favorise les nouvelles découvertes

Aujourd’hui, la résolution et la performance analytique à l’échelle du nanomètre sont aussi importantes que la rapidité d’acquisition des données. Le tout nouveau microscope électronique à balayage (MEB) JSM-IT710HR est le modèle de quatrième génération de la série HR* de JEOL. Il permet à tout utilisateur, même débutant, d’acquérir facilement des images en haute résolution.
Le JSM-IT710HR est facile d’utilisation avec des fonctions automatiques améliorées et de plus grandes performances d’observation et d’analyses.

_{* HR = haute résolution}

Voir plus loin

1. L’image électronique est visible en même temps que l’image optique.

1. L'image MEB est visible en même temps que l'image optique.

Échantillon : avec l’autorisation de Hino Tonton ZOO (Hamura Zoo).

2. L’image est encore plus précise grâce au canon à électrons à effet de champ dans la lentille.

Réduction de la charge en pression contrôlée

Vide partiel (low vacuum)

Observation 3D en temps réel

Détecteur multi-segments

Informations élémentaires

EDS*

Analyse de la structure cristalline

EBSD*

* en option

Réduction de la charge
Échantillon : Avec l’autorisation du Professeur Tetsuro Asakura, Department of Biotechnology and Life Science, Tokyo University of Agriculture and Technology.

Analyse de la structure cristalline
Échantillon : Avec l’autorisation du Professeur Kaneaki Tsuzaki, National Institute for Material Science (NIMS).

Nouvelles fonctions

Observation automatique : Simple SEM/EDS

La fonction Simple SEM permet d’effectuer automatiquement des mesures en enregistrant plusieurs conditions à la fois.
Cette fonction améliore l’efficacité du travail de routine.

1. Spécifiez plusieurs conditions à la fois.

2. Sélectionner plusieurs champs de vision à la fois.

3. Lancez l’observation automatique.

Live 3D : construction d’une image 3D en temps réel

L’imagerie peut s’effectuer à un faible grossissement, grâce à la nouvelle lentille l’objectif.

détecteur Quadrant

Images acquises à l’aide du détecteur multi-cadrans

Échantillon : Surface de rupture d’un plastique

Image 3D affichées en temps réel

Nouveau détecteur d’électrons secondaires hybride à vide partiel (LHSE) – en option

Le nouveau détecteur LHSED fonctionnant en vide partiel permet l’observation d’échantillons avec 2 modes : des images avec le signal de cathodoluminescence ou des images avec une information topographique.

Caractéristiques du LHSED

Amélioration de la qualité de l’image en direct en vide partiel.
Acquisition d’informations sur l’émission de lumière (cathodoluminescence).
Possibilité de passer des images topographiques aux images contenant des informations sur l’émission de lumière en un click.

L’image par détecteur d’électrons rétrodiffusés (BED) met l’accent sur les informations relatives à la composition.

L’image par détecteur LHSED-PD met l’accent sur les informations relatives à l’émission de lumière.

La stabilité du canon à électrons Schottky FE-In Lens a été multipliée par 4 par rapport aux modèles précédents.

Réglage automatique du faisceau

Le JSM-IT710HR ne nécessite pas de réglage manuel compliqué et offre un réglage automatique de la colonne électronique, de la correction de l’astigmatisme et de la mise au point exceptionnel (venez tester les automatismes en démonstration!).

Lorsque l’alignement n’est pas précis : alignement automatique du faisceau (ABA).

Lorsque l’astigmatisme n’est pas corrigé ou que la mise au point n’est pas réglée : autofocus (AF) Auto stigmatisme (AS).

Système de détection des électrons secondaires

Détecteur d’électrons secondaires (SED)

Échantillon : Plume de paon. Avec l'autorisation du zoo de Hinotonton (Hamura Zoo).

Détecteur d’électrons secondaires sous vide partiel (LVSED/LHSED)

Échantillon : microfibre de cellulose.

Haute résolution et courant fort

Le canon à effet de champ Schottky du JSM-IT710HR est intégré à la lentille du condenseur pour créer de forts courants tout en conservant une petite sonde, ce qui permet une observation et une analyse en haute résolution ( caractéristique unique à JEOL).

Système de détection des électrons rétrodiffusés

Le nouveau détecteur d’électrons rétrodiffusés multi-segmenté acquiert des images d’électrons rétrodiffusés provenant de quatre directions à la fois, de sorte qu’une image 3D peut être créée et affichée en direct, en temps réel.

Chaque analyse commence avec le Zeromag

La fonction Zeromag facilite l’observation et l’analyse de vos échantillons en liant les images optiques aux images électronique à travers une transition parfaite!.

Intégration EDS

JEOL fabrique et vend des MEB mais aussi des systèmes EDS.
L’EDS est entièrement intégré au MEB pour simplifier le flux de travail, le fonctionnement et la gestion des données.

Analyse de phase

Le système EDS de JEOL propose un nouveau logiciel d’ analyse de phase.

Image d’électrons rétrodiffusés

Cartographie de phase (superposition de plusieurs phases)

Échantillon : coupe transversale d'un outil de coupe pour l'usinage de précision. L'analyse de phase indique la différence de composants entre les zones riches en Co, Cu et Sn.