Amélioration de l’expérience utilisateur avec l’utilisation d’automatismes de réglage, d’observation et d’analyse
De nouvelles fonctions sont disponibles pour garantir l’acquisition de données de haute qualité. Parmi ces fonctions, nous avons le live 3D, la correction trapézoïdale pour les acquisitions EBSD, et bien d’autres.
L’utilisation d’un MEB FEG n’a jamais été aussi facile qu’avec la série JSM-IT810.
In-situ charging/discharging SEM for degradation monitor of ASSB (All Solid-State Battery).
Caractéristiques
Fonction d’observation et d’analyse automatique « Neo Action »
L’observation MEB et l’analyse EDS peuvent être automatisées en réglant simplement les conditions d’analyse et en sélectionnant les zones à mesurer.
Échantillon : Chondrules in chondrite Julesberg (L3.6). Tension : 5kV
Ajustement automatique du MEB (Option)
Nous utilisons un échantillon dédié pour effectuer l’étalonnage du grossissement, l’alignement du faisceau et l’étalonnage de l’énergie EDS. Des contrôles réguliers permettent de maintenir l’équipement dans un état optimal.
Fonction Live-3D
Notre détecteur BSE multi-segmenté, de type semi-conducteur, est utilisé pour créer une reconstruction 3D en direct sur la surface de l’échantillon. Vous pourrez visualisez l’image 3D en temps réel pour vérifier la topologie de l’échantillon.
Intégration EDS
L’intégration de l’EDS dans le logiciel de contrôle du microscope permet une utilisation simplifiée. Diverses méthodes d’analyse telles que les pointés, la zone, la cartographie et la ligne peuvent être sélectionnés directement sur l’écran d’observation, ce qui permet de lancer immédiatement une analyse.
Télécharger les notes d’application
| Recent developments in SEM column design have led to the ability to produce nanometer spot sizes even at high probe currents [1], thus pushing the analytical techniques available in the SEM to conduct microanalysis with ultra-high spatial resolution. While the main limitation is the physics of beam-specimen interaction and the volume from which the signal is generated during basic bulk sample observation and microanalysis, use of very thin specimens, similar to TEM, should lead to improvements in microanalysis resolution. This approach has been shown to be successful for EDS analysis [2] and has been gaining prominence for crystallographic analysis using Transmission Kikuchi Diffraction (TKD, also referred to as t- EBSD) with a traditional EBSD camera [3]. |
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