Principe de fonctionnement
Les performances des instruments scientifiques sont affectées par des perturbations causées par les fluctuations de champs magnétiques qui existent autour des équipements installés. Les sources pouvant causer des effets néfastes sont diverses : chemins de fer, ascenseurs, lignes électriques…
JEOL propose une vaste gamme de compensateurs actifs de champs magnétiques, développés selon les caractéristiques particulières des instruments scientifiques haut de gamme et adaptés à tous les équipements JEOL.
Schéma de fonctionnement d’un compensateur actif de champ magnétique
Forme d’onde sur l’axe des temps
En haut : sans compensateur. En bas : avec compensateur.
Les champs magnétiques fluctuants sont détectés par des capteurs (magnetic field sensor) installés à proximité de l’instrument, ce qui déclenche les bobines d’annulation (canceller coil) qui délivrent des champs magnétiques de compensation en direction opposée à ceux détectés près des capteurs. L’annulation du champ peut se faire selon les trois axes X, Y et Z.
Capteurs et bobines d’annulation sont conçus pour répondre aux besoins spécifiques de chaque instrument sur son site d’installation ; ce qui permet d’optimiser les performances de votre instrument JEOL dans des conditions environnementales maîtrisées.
Résultat du système de compensation active
Instrument : JSM-IT800 (SHL)
Au 15kV WD10 x300k (compensateur OFF)
Au 15kV WD10 x300k (compensateur ON)
Au 15kV WD10 x400k (compensateur OFF)
Au 15kV WD10 x400k (compensateur ON)
Configuration d’un système de compensation active
Console de contrôle
Capteur 3 axes séparé
Capteur 3 axes intégré
Illustration : microscopes électroniques en transmission
Installation du JEM-F200 au sein du Groupe de Physique des Matériaux (GPM) de Rouen, équipé d’un compensateur de champ magnétique sur mesure dont la cage est intégrée aux murs et sol de la pièce. Les éléments de la cage sont soigneusement conçus et disposés de façon à obtenir un résultat non invasif et épuré, respectant au mieux l’environnement de la pièce.
Illustration : microscopes électroniques à balayage
